Книги
чёрным по белому
Главное меню
Главная О нас Добавить материал Поиск по сайту Карта книг Карта сайта
Книги
Археология Архитектура Бизнес Биология Ветеринария Военная промышленность География Геология Гороскоп Дизайн Журналы Инженерия Информационные ресурсы Искусство История Компьютерная литература Криптология Кулинария Культура Лингвистика Математика Медицина Менеджмент Металлургия Минералогия Музыка Научная литература Нумизматика Образование Охота Педагогика Политика Промышленные производства Психология Путеводители Религия Рыбалка Садоводство Саморазвитие Семиотика Социология Спорт Столярное дело Строительство Техника Туризм Фантастика Физика Футурология Химия Художественная литература Экология Экономика Электроника Энергетика Этика Юриспруденция
Новые книги
Цуканов Б.И. "Время в психике человека" (Медицина)

Суворов С. "Танк Т-64. Первенец танков 2-го поколения " (Военная промышленность)

Нестеров В.А. "Основы проэктирования ракет класса воздух- воздух и авиационных катапульных установок для них" (Военная промышленность)

Фогль Б. "101 вопрос, который задала бы ваша кошка своему ветеринару если бы умела говорить" (Ветеринария)

Яблоков Н.П. "Криминалистика" (Юриспруденция)
Реклама

Линейные транзиторные усилители СВЧ - Шварц Н.З.

Шварц Н.З. Линейные транзиторные усилители СВЧ — М.: Советское радио, 1980. — 368 c.
Скачать (прямая ссылка): lineynietranzitornieusilie1980.djvu
Предыдущая << 1 .. 19 20 21 22 23 24 < 25 > 26 27 28 29 30 31 .. 125 >> Следующая

В отличие от традиционных усилителей (например, резонансных усилителей высокой частоты), в которых самовозбуждение обычно происходит в рабочем диапазоне частот, в усилителях СВЧ оно чаще всего возникает вне рабочего диапазона. Поскольку устойчивость СВЧ полупроводниковых приборов в значительной степени определяется паразитными элементами, пренебрежение ими в моделях некорректно, а исследование устойчивости представляет сложную вычислительную задачу.
Содержание этой главы актуально для решения задач, связанных с обеспечением устойчивости не только транзисторных усилителей СВЧ. Это обусловлено тем, что идеи согласования теоретических и экспериментальных методов исследования устойчивости справедливы не только для СВЧ транзисторов, но и для устройств с любыми другими типами полупроводниковых приборов. Кроме того, исследование какого-либо явления как части более общего всегда способствует более глубокому его пониманию.
Основной метод теории устойчивости заключается в исследовании с помощью определенных критериев моделей, представляющих с большей или меньшей достоверностью реальные устройства. Однако, поскольку нашей задачей является исследование устойчивости реального устройства, а не его модели, обязателен анализ корректности модели, т. е. определение степени ее соответствия реальному устройству. Во многих случаях (например, при использовании бесструктурных моделей) корректность моделей может быть выявлена только в результате эксперимента. Очевидно, что эксперимент должен занимать важное место при анализе устойчивости.
Также очевидно, что эффективность применения кри-
77
териев для исследования устойчивости предопределяется тем, насколько удачен выбор вычислительных методов и, в частности, машинных методов; решение прикладных задач требует, как правило, оперативности.
Прослеживается прямая связь отдельных этапов исследования устойчивости: требования теории, выражен-ные в форме критериев устойчивости, определяют вид модели (структурная, бесструктурная, физическая, экспериментальная) и требования к точности ее параметров
и, следовательно, к экспериментальной методике. При формулировании требований теории приходится учитывать и экспериментальные возможности. Здесь имеется следующая (назовем ее обратной) связь: экспериментальные исследования позволяют представить реальное устройство в виде определенной модели, в определенном диапазоне частот, с определенной точностью; устойчивость модели, описанной таким образом, может быть исследована с помощью того или иного критерия; следовательно, модель обусловливает выбор критерия устойчивости.
Таким образом, согласованное исследование устойчивости (рис. 4.1) включает в себя два основных этапа:
1) выбор модели, в наибольшей степени отражающей реальное устройство (согласование «устройство — модель»);
2) выбор критерия, в наибольшей степени подходящего для исследования модели устройства (согласование «критерий — модель»).
Решению второй задачи посвящено большинство работ по теории устойчивости, в то время как работ по исследованию корректности моделей значительно меньше.
Хотя логически выбор модели должен предшествовать выбору критерия, методически удобнее вначале рассмотреть задачу выбора критерия.
Кроме двух перечисленных этапов исследование устойчивости должно содержать:
— выбор вычислительных методов, практически пригодных для реализации критериев устойчивости;
— выбор экспериментальных методик, практически пригодных для проверки корректности модели.
В заключение данного параграфа приведем краткий обзор работ, посвященных в основном различным критериям, применяемым для анализа активных четырехпо.
76
79
Coomffemcm&c/e єстб —H Конец
люсников, и в частности, транзисторов *>. Выбор подходящего аппарата для анализа устойчивости конкретных схем в значительной степени определяет его простоту.
Непосредственное определение корней характеристических уравнений может быть рекомендовано лишь в случае простейших систем, приводящих к дифференциальным уравнениям не выше второго порядка [4.2, 4.3]. Применение ЭВМ позволяет анализировать устойчивость систем значительно более высокого порядка (см. § 4.2).
Устойчивость сложных моделей обычно приходится описывать дифференциальными уравнениями выше второго порядка. Непосредственное вычисление корней ХЭ' рактеристических уравнений, соответствующих таким дифференциальным уравнениям, громоздко, и для их анализа используют различные критерии устойчивости.
К критериям, имеющим большую информативность, т. е. позволяющим выделить область устойчивости тех или иных параметров системы, относятся прежде всего алгебраические критерии [4.4, 4.5, 4.15]. Большую информативность в указанном смысле имеет также метод .D-разбиений, предложенный Неймарком [4.6]. Анализу устойчивости активных систем этим методом посвящены работы [4.7—4.9].
Известные критерии устойчивости — критерий Михайлова или критерий Найквиста [3.4], как его частный случай позволяют избежать определения корней уравнения и тем самым упростить рассмотрение устойчивости. Анализ устойчивости транзисторных усилителей с помощью последнего критерия содержится в работах [4.10—4.14].
Предыдущая << 1 .. 19 20 21 22 23 24 < 25 > 26 27 28 29 30 31 .. 125 >> Следующая